日本NIKON尼康MH-15M数显测微头

尼康（Nikon）MH-15M 属于 DIGIMICRO 系列中的超高精度小行程数显测微头/数字高度计测头。  与 MF-1001（100mm 行程、3µm 精度）相比，MH-15M 专注于极小范围内的极致精度测量

主要用途与应用场景：微小零件的超高精度测厚/测高： 用于对精度要求极严的薄膜、晶片、超薄金属片、精密垫片及微型电子元件进行厚度、高度差和段差测量。  实验室与最高级计量（QA/QC）： 作为工厂计量室或研发展示的基准级校核工具，用于校准标准件、针规及微型模具零件。  大型平台基准测量： 尺寸小巧，除了搭配专用台架外，还可以直接固定或磁吸于大型花岗岩平台上，以大平台底面为基准，对大型工件上的局部微小特征进行精密测量