日本Mitutoyo三丰白光干涉光学单元554-001 WLI-Unit-003

白光干涉光学单元 WLI-Unit

利用白光干涉可以实现非接触式高精度精细表面纹理测量

• 利用白光干涉的非接触式高精度精细表面纹理测量→3D形状测量、3D粗糙度测量

• 高度测量精度与光学放大率无关即使使用低放大率镜头也可进行高 Z 分辨率测量

• 高纵横比测量支持高纵横比形状测量，检测不依赖于光学系统的数值孔径

• 抗干扰振动的高鲁棒性

• 小巧轻便

対物レンズはオプションです。

推奨PC仕様
OS：Windows 10Pro 64bit / Windows 11Pro 64bit
CPU：Xeon Processor 8 Core（2.0GHz以上）
メモリ：8GB以上
ストレージ：25GB以上
光学ドライブ：DVD-ROMドライブ（ソフトウェアインストール用）
通信ポート：RJ-45×1ポート（EtherNET）
拡張スロット：PCI Express 3.0×8 以上