咨询电话：18511227625
欢迎访问青岛澳海源国际贸易有限公司！
咨询电话：18511227625
SHIBUYA涉谷光学图表IEEE-30P IEEE-30N
该测试卡符合IEEE STD208-1995，用于评估各种光学器件的性能。
涩谷光学的分辨率表采用合成石英，可抵抗因温度变化而劣化。
我们根据客户的应用准备了正型和负型作为标准产品
| 型号 | IEEE-30P | IEEE-30N |
|---|---|---|
| 材料 | 合成石英 | 合成石英 |
| 类型 | 阳性型 | 负型 |
| 打印精度 | ±0.001mm | ±0.001mm |
| 尺寸 | 48×40mm（厚度1.5mm） | 48×40mm（厚度1.5mm） |
