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TECLOCK深度计DM-293

2021-03-08 9 收藏 返回列表
TECHTRY液位传感器LUP-P-B-2M-PNPMitutoyo三丰显微镜单元 Mitutoyo三丰物镜 紫外、近紫外、可视、近红外 Mitutoyo三丰显微镜单元 日本三丰物镜(紫外、近紫外、可视、近红外) 用于半导体、电子、液晶相关等产品的生产 品质管理系统、实验研究装置使用的光学系统 外观检查系统的嵌入式光学单元 微生物等运动物体的观察 等 可安装数码相机,通过外部显示器进行观察和拍摄。 可实现横向水平、上下颠倒等高自由度的固定方法。 与简易支架一起使用,还可作为紧凑型显微镜使用。  ★金属、树脂、印刷面等表面观察拍摄  ★微量流体分析用光学系统  ★以观察和分析细胞、微生物等为目的的光学系统 M Plan Apo NIR系列等支持红外区的物镜组合,可在红外线下实 现可见光下做不到的非破坏性检查。  ★液晶薄膜、硅基板等的厚度测量  ★MEMS内部的非破坏评价、三维安装评价  ★半导体封装(IC)的内部观察、晶圆键合空洞评价传感器  ★红外分光特性分析 通过VMU-LB和固定倍率观察用相机卡口的 组合,能够对同一位置以不同倍率同时观 察。 (低倍率侧:2/3型、高倍率侧:1/2型等) 通过与YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物镜组合,可实现高精度、高 品质加工。 与简易支架一起使用,还可作为紧凑型显微镜使用。  ★保护膜、有机薄膜等的剥离  ★金、铝等金属配线切割、下层图案的外露  ★FPD的各种缺陷修正  ★光掩模修正  ★标记、修剪、图像形成、局部退火、划线 凭借长动作距离设计的物镜,实现优异的操作性。 最适合与定位器、探针台等组合。 通过与激光加工装置组合,还可支持不良分析→部分修正无缝衔接的系统。 此外,还提供支持隔着玻璃的、真空内的外观检查的系统 视频显微镜单元 VMU 大视场视频显微镜单元 WIDE VMU 精密显微镜单元 FS72 明视场用物镜 (长工作距离 ) M Plan Apo/M Plan Apo HR 明视场用物镜 (超长工作距离 ) M Plan Apo SL 明视场用物镜 (玻璃厚度校正) G Plan Apo 明暗视场物镜 (长工作距离) BD Plan Apo/BD Plan Apo HR 明暗视场物镜 (超长工作距离 ) BD Plan Apo SL (近红外区

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